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產(chǎn)品型號: NANOTRAC WAVE II
所屬分類:納米粒度分析儀
產(chǎn)品時間:2023-10-28
簡要描述:納米粒度及zeta電位儀NANOTRAC WAVE II采用先進(jìn)的“Y"型光纖探針光路設(shè)計,配置膜電極產(chǎn)生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,*消除由于空間位阻
納米粒度及zeta電位儀
NANOTRAC WAVE II采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計,配置膜電極產(chǎn)生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,*消除由于空間位阻
外部環(huán)境:
電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz
環(huán)境要求:溫度,10-35°C
國際標(biāo)準(zhǔn):符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特點:
• 采用先進(jìn)的動態(tài)光散射技術(shù),引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
• “Y”型光纖光路系統(tǒng),通過藍(lán)寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度
• 異相多譜勒頻移技術(shù),較之傳統(tǒng)的方法,獲得光信號強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級,提高分析結(jié)果的可靠性。
• 可控參比方法(CRM),能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜,確保分析的靈敏度。
• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計,減少了多重散射現(xiàn)象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。
• 快速傅利葉變換算法(FFT,F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜,縮短分析時間。
• 膜電極設(shè)計,避免產(chǎn)生熱效應(yīng),能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。
• 無需比色皿,毛細(xì)管電泳池或外加電極池,僅需點擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質(zhì)的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。
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